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貼片電容為什么要進(jìn)行老化處理？

作者： 昂洋-柯正發(fā)表時(shí)間：2018-07-28 11:36:27瀏覽量：11037【小中大】

發(fā)熱溫度高于其介質(zhì)的居里點(diǎn)時(shí)，此時(shí)產(chǎn)生“去老化”現(xiàn)象，即通過老化發(fā)生的容量降低重新恢復(fù)，當(dāng)電容器恢復(fù)冷卻時(shí)，老化又隨時(shí)間產(chǎn)生。
文本標(biāo)簽：貼片電容

　　貼片電容為什么要進(jìn)行老化處理?貼片電容器的容量隨時(shí)間以對(duì)數(shù)規(guī)律降低(之稱之為老化)。然而，如果貼片電容器發(fā)熱溫度高于其介質(zhì)的居里點(diǎn)時(shí)，此時(shí)產(chǎn)生“去老化”現(xiàn)象，即通過老化發(fā)生的容量降低重新恢復(fù)，當(dāng)電容器恢復(fù)冷卻時(shí)，老化又隨時(shí)間產(chǎn)生。

　　貼片電容器去老化條件：將貼片電容器放在上限類別溫度或按詳細(xì)規(guī)范中可能規(guī)定的更高溫度(150℃)下經(jīng)1h 后，接著在試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)24±1h。


　　根據(jù)各類材質(zhì)隨時(shí)間衰減系數(shù)見以下曲線圖：

貼片電容老化處理

　　貼片電容測(cè)試條件：



項(xiàng)目

Item

技術(shù)規(guī)格

Technical Specification

測(cè)試方法

Test Method Remarks

容量

Capacitance

Ⅰ類 ClassⅠ

(COG/NPO)

應(yīng)符合指定的誤差級(jí)別

Should be within the specified toleance

標(biāo)稱容量

Capacitance

測(cè)試頻率

Measuring Frequency

測(cè)試電壓

Measuring Voltage

≤1000PF

1MHz±10%

1.0V±0.2V

>1000PF

1KHz±10%

1.0V±0.2V

Ⅱ類 Class Ⅱ

應(yīng)符合指定的誤差級(jí)別

Should be within the specified toleance

C≤10uF     測(cè)試頻率：1KHz±10%      1.0V±0.2V

Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V

C>10uF      

X7R X5R Y5V 測(cè)試頻率：120Hz±24Hz     0.5V±0.05V

Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V

測(cè)試溫濕度：25±5℃ 50%-70%


　　以上是關(guān)于貼片電容為什么要進(jìn)行老化處理的講解，想要了解更多貼片電容知識(shí)，歡迎持續(xù)關(guān)注本站。

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